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德國(guó)EPK

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產(chǎn)品名稱(chēng)：	MiniTest730 F2 HD
發(fā)布時(shí)間：	2024-08-31
產(chǎn)品品牌：	ElektroPhysik/德國(guó)EPK
產(chǎn)品特點(diǎn)：	MiniTest730 F2 HD 新的MiniTest700涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品線，加強(qiáng)了德國(guó)EPK（Elektrophysik）公司在涂層測(cè)厚市場(chǎng)的。 - 創(chuàng)新的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理）技術(shù)提升了測(cè)量的性 - 測(cè)量范圍達(dá)15mm，可F、N或FN探頭，提供內(nèi)置或外接探頭

MiniTest730 F2 HD的詳細(xì)資料：

MiniTest730 F2 HD

新的MiniTest700涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品線，加強(qiáng)了德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司在涂層測(cè)厚市場(chǎng)的。
- 創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測(cè)量的性
- 測(cè)量范圍達(dá)15mm，可F、N或FN探頭，提供內(nèi)置或外接探頭
- FN探頭自動(dòng)識(shí)別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體，操作方便不易出錯(cuò)

優(yōu)點(diǎn)一覽：

- SIDSP使測(cè)量不受干擾，測(cè)值更加
- 可更換探頭使用更加靈活(MiniTest740探頭可由內(nèi)置換為外置)
- FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體，使測(cè)量更迅速，避免操作錯(cuò)誤
- 溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
- 生產(chǎn)過(guò)程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高度的特征曲線
- 大存儲(chǔ)量，能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
- 讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
- 超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
- 菜單指引操作，25種語(yǔ)言可選
- 帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
- 可下載更新軟件

技術(shù)參數(shù)

探頭特性		F1.5，N07，F(xiàn)N1.5		F2	F5，N2.5，F(xiàn)N5		F15
		F	N	F	F	N	F
測(cè)量范圍		0~1.5mm	0~0.7mm	0~2mm	0~5mm	0~2.5mm	0~15mm
使用范圍		小工件，薄涂層		粗糙表面	標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛		厚涂層
測(cè)量原理		磁感應(yīng)	電渦流	磁感應(yīng)	磁感應(yīng)	電渦流	磁感應(yīng)
信號(hào)處理		探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理(SIDSP)
度		±(1μm+0.75%讀值)		±(1.5μm+0.75%讀值)			±(5μm+0.75%讀值)
重復(fù)性		±(0.5μm+0.5%讀值)		±(0.8μm+0.5%讀值)			±(2.5μm+0.5%讀值)
低端分辨率		0.05μm		0.1μm			1μm
小曲率半徑(凸)		1.0mm		1.5mm			5mm
小曲率半徑	(凹，外置探頭)	7.5mm		10mm			25mm
	(凹，內(nèi)置探頭)	30mm		30mm			30mm
小測(cè)量面積		Ø5mm		Ø10mm			Ø25mm
小基體厚度		0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
連續(xù)模式下測(cè)量速度		每秒20個(gè)讀數(shù)
單值模式下大測(cè)量速度		每分鐘70個(gè)讀數(shù)