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　　1、對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似;對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

　　2、檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度。

　　3、不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進行測量。

　　4、不應(yīng)在試件的彎曲表面上測量。

　　5、通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進行多次測量，表面粗造時更應(yīng)如此。

　　6、測量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。

　　鍍層測厚儀測量精度受到影響的因素有什么？

　　1.磁場：

　　周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。

　　2.附著物質(zhì)：

　　測厚儀對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。

　　3.探頭的取向：

　　測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應(yīng)當使測頭與試樣表面保持垂直。

　　4.曲率：

　　試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。

　　5.試件的變形：

　　測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上不能測出可靠的數(shù)據(jù)。

　　6.探頭壓力：

　　測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。