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操作流程圖：

一、進行校準：

MINITEST600有以下三種不同的校準方式：

①標準校準：適合平整光滑的表面和大致的測量。例如，低于一點校準精度要求的場合；

②一點校準：按ZERO鍵，啟動零位校準，顯示屏將顯示ZERO（閃）和MEAN（不閃）字樣，“MEAN”表示顯示的是平均值；將探頭置于無涂層樣板上（即零測厚），“滴”聲后提起探頭。重復多次，直到顯示屏始終顯示先前讀數(shù)的平均值；按ZERO鍵，結束校零，“ZERO”停止閃爍，置零（無涂層樣板校準）結束。此法用于允許誤差不超過4%的場合，探頭誤差范圍應另考慮。

③二點校準：無涂層樣板校準后，按CAL鍵開始用標準箔校準，顯開啟儀器校準儀器進行測量關閉儀器示器上出現(xiàn)CAL(閃)MEAN（不閃）字樣，將校準箔置于無涂層樣板上，放上探頭，“滴”聲后再提起探頭重復多次，直到顯示器顯示的讀數(shù)大致與所選標準箔的厚度相當，按上下鍵將讀數(shù)調(diào)節(jié)至標準箔的厚度，按CAL鍵，“CAL”停止閃爍，校準完畢。此法用于誤差范圍在2%~4%(大)之間的測量，探頭誤差范圍應另考慮。

二、開始測量：

測量時須握住測頭上套管，將探頭置于要測量的涂層上，保持測頭軸線與被測面垂直，“滴”聲后提起探頭，讀取讀數(shù)。

測量完畢后，關閉電源。

注意事項

F型側頭是根據(jù)磁感應原理，測量鋼或鐵基體上的非磁性覆層，故應遠離強磁場。

三、技術指標

1.測量范圍F型(鐵基體) 0-3000μmN型(非鐵基體) 0-2000μmFN型(兩用探頭) 0-2000μm

2.允許誤差：±（2%~4%讀值+2μm） 

3.小曲率半徑：5mm（凸）25mm（凹） 

4. 小測量面積：φ20mm 

5.小基體厚度：0.5mm 

6.顯示：3位數(shù)字（字高11mm） 

7. 可選校準方式：標準校準、一點校準、二點校準

8.統(tǒng)計數(shù)據(jù)：平均值x、s標準偏差、讀數(shù)個數(shù)n（多9.999個）、大值max、小值min 

9. 電源：2節(jié)5號堿電池，至少測量1萬次 

10.儀器尺寸：64mm×115mm×25mm 

11. 測頭尺寸：φ15mm×62mm 

12.電源：AC220V±10%50Hz 

13.測量精度：1μm。